產品說明：
　　一、系統組成
　　1.巡測控制器
　　2.128管位老化插座板
　　3.Espec高低溫箱（自選）
　　
　　二、巡測控制器的原理框圖如下：
　　巡測控制儀有手動和程控兩種使用方式。手動方式通過控制器上的按鍵、程控方式通過計算機串行通訊口來控制矩陣板上的繼電器閉合，將B、C、E分配到第N個被測器件上。
　　巡測控制器的使用方法如下圖所示：
　　
　　三、Espec高低溫箱（用戶自選）
　　高低溫范圍-55度-＋155度
　　四、使用范圍
　　本巡測控制器主要用于半導體分立器件在高低溫環境下的電性能檢測。目前，許多的廠家對器件的質量越來越重視，購進了一些高低溫的設備，但是，在進行測試時，卻是將被測試器件從高低溫箱中拿出來，然后再進行測試，這個過程持續的時間雖然不長，可是被測器件的溫度已然有了變化，溫度環境的變化導致測試數據的偏移，巡測控制器可以解決上述的問題，器件是在設定的溫度環境中進行時實測試。
　　
　　五、儀器尺寸 422 X 296 X 56 mm 重 2kg
　　六、使用說明
　　本控制器有自動和手動兩種控制方式。如果用戶需要和圖示儀進行連接，通常采用手動控制方式，因為DUT的合格與否，需要操作人員觀察圖示儀，然后加以判斷，不采用自動方式。如果用戶希望購買BC3193分立器件測試儀，則可以采用自動方式進行操作，并且測試的結果可以自動紀錄，方便，推薦采用該方式進行操作。
　　巡測控制器由兩部分組成：控制器和老化插座板。
　　控制器內置MCU，由他發出控制信號，控制繼電器矩陣，將測試信號逐個切換到被測器件，以便對器件進行測試。
　　插件盒包含了繼電器矩陣、其他一些控制，以及一個可以128個被測試器件的測試老化板，使用時用戶可以將被測試器件成批老化板，然后放入高低溫箱中，連接好電纜，待溫度環境合適時，便可以由控制器進行控制逐個將被測試器件測試完。
　　老化板上的插座有多種樣式，可以滿足用戶測試各種封裝的分立器件。