一、產(chǎn)品特點(diǎn)：
采用面陣列模式研發(fā)的高亮度光源，透過(guò)其被測(cè)物投射到光源上，從而能清晰地提取出外形輪廓特征。
二、應(yīng)用領(lǐng)域：
1、各類(lèi)電子元器件；
2、IC的外型檢測(cè)；
3、透明物體表面或者內(nèi)部劃痕檢測(cè)等；
4、產(chǎn)品的外形輪廓識(shí)別及尺寸測(cè)量。
采用面陣列模式研發(fā)的高亮度光源，透過(guò)其被測(cè)物投射到光源上，從而能清晰地提取出外形輪廓特征。
二、應(yīng)用領(lǐng)域：
1、各類(lèi)電子元器件；
2、IC的外型檢測(cè)；
3、透明物體表面或者內(nèi)部劃痕檢測(cè)等；
4、產(chǎn)品的外形輪廓識(shí)別及尺寸測(cè)量。
