采用面陣列模式研發(fā)的高亮度光源,透過(guò)其被測(cè)物投射到光源上,從而能清晰地提取出外形輪廓特征。
二、應(yīng)用領(lǐng)域:
1、各類(lèi)電子元器件;
2、IC的外型檢測(cè);
3、透明物體表面或者內(nèi)部劃痕檢測(cè)等;
4、產(chǎn)品的外形輪廓識(shí)別及尺寸測(cè)量。
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李先生(聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)說(shuō)明是在維庫(kù)儀器儀表網(wǎng)看到的,謝謝)
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經(jīng)營(yíng)模式:工廠
所在地:廣東省 東莞市
主營(yíng)產(chǎn)品:包裝印刷
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