儀器簡介：

          具采用的密封充氣紫外光學系統和OPI水平觀測等離子光學接口完成消除水平觀測時尾焰的影響、全譜CCD技術和多視角等離子體定位等新技術，有高靈敏度、高以及波長范圍寬（130nm-770nm)等特性，在ICP-OES 領域開拓了全新的應用，可分析包括ppm級鹵素在內的73個金屬和非金屬元素。

         SPECTRO ARCOS全譜直讀ICP光譜儀(等離子體發射光譜儀)可廣泛適用于科研、冶金、機械、石化、環保、食品、地質、生化等愈來愈復雜的元素分析需求!作為一種快速、簡便和的分析工具與手段，ICP-OES（電感耦合等離子體發射光譜儀）被廣泛地應用在各種元素分析的領域。然而，目前商品化的ICP-OES，由于其內在結構和性能的局限，無法滿足愈來愈復雜的元素分析需求。SPECTRO ARCOS以其獨具匠心的創新性設計，可極好的滿足研發、工業、環保、石化、地質、生化等領域的用戶需要，尤其適合復雜基體樣品的分析。 　　
從SPECTRO ARCOS獨特的外觀上即可得知它出類拔萃的性能：極富特色的光學系統在保證分辨率的基礎上，可達到優異的穩定性和準確度。 　　
SPECTRO ARCOS可以方便的安裝在任何實驗室中，儀器的表面經過特殊的防腐處理，而且在整個進樣室內部也覆蓋有耐強腐蝕液體的保護膜。所有的部件和水電氣接頭都分別獨立放置，無須使用者拆裝儀器，維護和保養更加方便。　　
僅從儀器的外觀即可看出：SPECTRO ARCOS 不同于傳統的ICP光譜儀。儀器左側突出的部分是獨特的光學系統,它采用了的創新技術，具有無與倫比的分辨率、準確度和穩定性。
另外，SPECTRO ARCOS 采用堅固耐用的帶陶瓷功率管的新型自適式發生器和固態電源，維護方便省氣的UV-Plus 系統，高光通量的真空紫外光室波長達130nm,數據讀出系統的動態范圍可達8個數量級，瞬間測量頻率達10Hz。的ICAL邏輯校正系統可自動監控操作，確保儀器處于平穩的運行條件。
“Smart Analyzer Vision”圖文式用戶操作界面結構清晰，操作靈活簡便。無論是符合標準的測量還是準確定量重處理儲存的譜線或創建分析方法，操作者均能體驗到儀器簡便直觀的功能。
SPECTROARCOS提供兩種觀測模式：軸向（水平）觀測和徑向（垂直）觀測，新的帕邢-龍格光學系統在130nm到340nm波長范圍內均可保持恒定的分辨率。
光學系統 　　
優化的帕邢-龍格光學系統，再加上由鋁合金所鑄造的基座，為ICP技術創造了一個里程碑，它擁有的性能，在130nm到340nm光譜范圍里像素分辨率是3pm,340nm或以上的光譜范圍里像素是6pm。這種固定的分辨率值只能在帕邢-龍格光學系統上實現，它的優勢在于能夠以高分辨率的模式分析復雜基體（富譜線光譜），從而改善測量的。 　　
值得一提的是，帕邢-龍格光學系統能在130nm到770nm光譜范圍里，進行光譜的全圖譜數據采集，就算是在遠紫外區也能得到良好的靈敏度，這對于鹵素測試，痕量元素分析，或是一些在遠紫外區譜線靈敏度比較好的元素，都幫助很大。對于復雜基體的分析，通過選擇在遠紫外區不受干擾的譜線進行分析，可簡化方法建立的流程和提高分析的度。 遠紫外區光學系統 　　
光室采用氬氣循環的方式，并裝備有有凈化裝置的隔膜泵，保證了遠紫外區域分析的靈敏度和儀器的長期穩定性，避免了使用吹掃-光室氣氛不穩定，或真空裝置-光學元件易被污染的問題。 在遠紫外區光學系統（UV-PLUS）里，不使用吹掃或真空裝置，因此無須更換或清潔任何光學器件，所以遠紫外區光學系統不需任何維護。 　　
除了能在130nm到180nm這個遠紫外區光譜范圍里高靈敏度分析，它還可大幅度降低運行成本，在整個儀器使用周期里，與吹掃裝置的ICP相比，遠紫外區光學系統（UV-PLUS）可節省相當于三分之一的儀器采購成本。
SPECTRO ARCOS的優越之處包括全新的、長壽命、免維護的陶瓷管固態發生器，波長范圍可達到130nm的遠紫外區光學系統，動態范圍可達到8個量級的數據處理器，以及高達10Hz的測量頻率。 　　
的智能邏輯校正系統ICAL持續監控SPECTRO ARCOS的工作狀況，確保儀器在的狀態下運行。 　　
圖形化操作界面的SMART ANALYZER VISION操作軟件，具有高度靈活的、清晰的架構，操作簡單，無論是按照規范去定義測試流程，數據重處理還是自行建立方法，直觀的操作界面一定讓使用者得心應手，該軟件可讓SPECTRO ARCOS完全滿足國家或行業的法規和需求。 本軟件的其他功能包括，自動存儲分析方法，瞬間測量和自動優化。
檢測器與數據讀出系統 　　
SPECTRO ARCOS使用32個線性檢測器在130nm到770nm光譜范圍進行光譜的全譜數據采集，與其他采用CCD檢測器的ICP相比，SPECTRO ARCOS的檢測器在實現極低的暗電流噪聲基礎上，將工作溫度設定為15℃，這樣既保證了儀器的靈敏度，又無須使用大流量、高純度的保護性氣流吹掃檢測器表面，大大降低了日常運行費用，而且還可避免因環境溫度波動帶來的干擾。 每一個CCD均有獨立的數字信號處理器。雙CPU、32通道的高速數據讀出系統對信號進行再處理。所有32個CCD，可在2秒內完成全譜信號的采集和運算；每一個像素的積分時間可根據信號強度而自動調整，數據讀出系統能以10Hz的頻率處理瞬間信號，可與LC.HPLC等聯機使用。 　　　
快速的數據讀出和高達8個數量級的動態范圍，能有效消除溢出效應，并可在無須稀釋樣品的情況下直接進行痕量元素分析。
激發光源 　　
激發光源采用風冷式陶瓷振蕩管和高固態電源，頻率為27.12MHz，輸出功率為0.7至1.7KW，保證了SPECTRO ARCOS 的等離子體有異乎尋常的穩定性。 　　
免維護的激發光源無需任何電子或移動元件協助運行，可獨立調整共振頻率以適應各種樣品，在測量各種變化很大的基體時，等離子體也可保持穩定。 　　
相對于40.68MHz，27.12MHz擁有更大的頻寬以適應各種基體復雜的樣品。 　　
在進行大負荷（如：有機樣品等）樣品分析時，一般需要消耗很大的功率，但是SPECTRO ARCOS的高頻陶瓷振蕩管以及完全由計算機控制的高固態電源，可有效降低功率消耗，減少能量損失，提高耦合效率和延長系統壽命。在等候情況下，操作者可選擇 待機模式”，以減少功率和氬氣的消耗。
等離子體接口 　　
水平觀測模式適合進行痕量元素分析，的Optical Plasma Interface (OPI)接口，能有效提高靈敏度，可獲得比垂直觀測模式好十倍的檢出限。 　　\
統的ICP在水平觀測模式時會采用 尾焰切割”或 延長炬管”來消除基體干擾的問題，而OPI則是直接穿透等離子體，把尾焰吹開，徹底消除基體干擾。如果沒有OPI，在同時處理各種變化很大的基體時，尤其是在環保方面的樣品，會使得等離子體處于不穩定狀態，并造成不良影響，例如回收率變差。 　
　借助十多年的實際應用經驗，OPI在經過進一步的改進后，簡化了維護，并可確保定位。 　　
在進行高和高準確度分析時，垂直觀測模式SPI (Side-On Plasma Interface)是的選擇，它的優點是能夠在分析高鹽、有機、懸浮狀樣品時提供更好的和準度。 　
全計算機控制的炬管定位系統，能自動優化OPI接口與等離子體的距離以及SPI接口的觀測高度，這些設定可以與其他參數一起隨方法保存，并可自動隨方法調出使用。 進樣系統 　
　樣品是通過一個位于儀器右邊的四通道蠕動泵進入儀器，這種設計能大幅縮短樣品流程和沖洗時間，從而極大地縮短了總分析時間。 　　
利用全計算機控制的沖洗程序和自動進樣器的協助，可進一步優化分析時間，對于一些工作量相對很大的分析，例如地質、土壤和油品測試，SPECTRO ARCOS可輕易完成每天1000個樣品的測試。 　　
寬敞和隔熱的樣品進樣室，可以配合不同種類的進樣系統，智能化的定位裝置設計，使得霧化器和炬管的安裝輕而易舉，無須費時費力再校準。 　　
冷卻氬氣、輔助氬氣、霧化器氬氣和附加氬氣完全由軟件控制，在方法中這些參數都能單獨更改和獨立儲存，在需要時，自動優化程序會調整各項參數，該功能可讓初學者更快掌握儀器的使用。
軟件 　　
SPECTRO ARCOS采用的SMART ANALYZER VISION軟件，各項功能一目了然，操作直觀、簡便，它滿足了現代實驗室的需求，也可以和LIMS系統結合使用。其它軟件功能還包括數據重處理：也就是說更改已存儲數據的參數或重選其它譜線，然后再進行分析。

技術參數：

革命性的全新設計，真正的全譜直讀！！

1.光譜范圍130－770nm
2.三光柵:3600線/mm(2個),1800線/mm(1個)
3.動態范圍大于等于8個數量級
4.可在30秒內完成73個元素的全譜定量測試，分析速度:>=60個樣品/小時
5.短積分時間0.1ms,可與HPLC/GC聯機使用

主要特點：

主要特點

1.一維色散＋32個CCD檢測器設計，檢測器無需超低溫冷卻，無需氬氣吹掃保護
2.全波長覆蓋，為130－770nm的波長范圍，可以分析ppm級鹵素
3.密閉充氬循環光路系統，檢測190nm以下譜線，無需氣體吹掃
4.3秒實現真正全譜數據采集，分析速度快
5.所有氣體流量采用質量流量計計算機控制，矩管位置3維步進馬達計算機控制自動化程度高

• 創新點
• 1、可以直接測量遠紫外光譜區域（130nm~160nm),在該區域內直接測量鹵素元素（氯、溴），是目前可以測量鹵素元素的全譜直讀ICP光譜儀
2、“密閉氬循環、自凈化光室”開機即可測量紫外和遠紫外光譜區域，光室無須抽真空或吹掃
3、獨特的一維色散三分光系統，在整個光譜區域內均保持恒定的光譜分辨率
實時化
在定性和定量測量時全部實現全譜測量，能同時記錄分析樣品中所有元素譜線的整幅譜圖及測定時的各種參數，并可保存，自動檢索。日后需分析樣品中前次未測定的元素時，能快捷準確地測定，無須重新進樣測定；對于已測元素，可以增加事先沒有選擇的譜線，無需重新進樣測定
節能減排
氬氣消耗量小：
1測量紫外和遠紫外區域時光室無須用高純氬氣或氮氣吹掃。
2.CCD檢測器在低溫工作時，不需要氬氣吹掃，即可檢測器表面結霜