產品描述:類型白光干涉儀品牌SNU 型號SIS 2000品種其他干涉儀 測量范圍200×200×100（mm）測量分辨率0.1nm 用途TFT產業、半導體、MEMS、高校科研、精密加工 基本信...
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產品描述:類型白光干涉儀品牌臺智 型號1510品種其他干涉儀 測量范圍400um用途晶圓,精密機電 產品特點及用途 結合光學顯微鏡與白光干涉儀功能的掃描式白光干涉顯微鏡，...
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產品描述:類型平面干涉儀品牌MYT 型號QY-P-150, QY-P-200品種激光干涉儀 測量范圍平面測量分辨率高分辨率黑白顯示器（10寸） 近工作距離350X280X800mm（mm） 用途平面類光學元件（包括玻璃、金屬、陶...
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產品描述:類型激光干涉儀品牌Renishaw 型號XL80測量范圍0 - 80 metres 測量分辨率0.001 um 技術參數系統: &plun;0.5ppm (0~40 ℃)整個工作范圍)激光穩頻:&plun;0.05ppm分...
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產品描述:SUN-FCI2010干涉儀主機采用的是650nm的高功率LED窄帶光源,能夠使用戶方便快捷的得到干涉圖像。隨機配有兩個干涉夾具（2.5mm通用型，1.25mm通用型）能夠測量幾乎的光纖連接器。
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產品描述:類型激光掃描干涉儀品牌法珀激光 型號FPSI-1550-C7.5品種激光干涉儀 測量范圍工作波長1550nm測量分辨率精細常數大于200 近工作距離自由光譜范圍7.5GHz（mm） 用途分析、監測光通訊技術中的E...
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產品描述:類型接觸式干涉儀品牌寶棱 型號JDS-1品種其他干涉儀 測量范圍5-20μm測量分辨率0.02 μm 用途采用量塊或標準件借以高的比較方式的立式精密長度計量儀器， ...
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產品描述:類型激光干涉儀品牌雷尼紹renishaw 型號ML10激光干涉儀品種激光干涉儀 測量范圍0測量分辨率0 近工作距離0（mm） 用途生產車間、實驗室 激光干涉儀檢測系統： ML1...
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產品描述:類型激光干涉儀品牌安捷倫Agilen 型號E1738A品種激光干涉儀 測量范圍0~40m測量分辨率0.4PPM 近工作距離0.11（mm） 用途供應安捷倫激光干涉儀選件 The Agilent E1...
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產品描述:類型激光干涉儀品牌雷尼紹RENISHAW 型號XL-80品種激光干涉儀 測量范圍0-80M測量分辨率0.001UM 近工作距離1（mm） 用途加工中心機 XL-80激光測量系統新型Renishaw...
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產品描述:類型白光干涉儀品牌韓國SNU 型號SIS 1200 產品介紹 白光干涉儀SIS系列采用增加相位掃描干涉技術，是專為準確測量表面輪廓、粗糙度、臺階高度和其他表面參數而設計的微納米測量...
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產品描述:類型白光干涉儀品牌智泰 型號SIS-2000品種其他干涉儀 測量分辨率0.1nm用途TFT、半導體芯片、材料、微電機系統 儀器特點： 1 、非接觸式測量：避免物件受損。 2 、三維...
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產品描述:類型激光干涉儀品牌科豐芯緣 型號KF-B品種激光干涉儀 測量范圍0-40m測量分辨率0.02μm 用途檢測機床 雙頻激光干涉儀主要用作計量中的長度基準，隨著機床精...
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產品描述:類型激光干涉儀品牌美國光動， 型號YT-500品種激光干涉儀 太空型MCV-5000系列激光測量系統美國光動公司的MCV-5000系列是專為大型五軸加工中心完整的體積測量及補償而設...
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產品描述:本儀器是一種采用量塊或標準件借以高的比較方式的立式精密長度計量儀器。主要用于150mm以下塊規，亦可用作度的長度和外徑的精密測量，是各級計量室的基本長度計量儀器之一。
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